Groupe de Travail du Centre Français de Fiabilité [CFF] - Humidité vs Fiabilité Composants Électroniques
Nous avons recentré les discussions sur 2 thèmes en particulier:
I. Tests de fiabilité (Tests THB vs HAST, Test HV-H3TRB, …)
> Evolution des tests de fiabilité électronique pour prise en compte de l’humidité
II. Modes & mécanismes de défaillance liés à l'humidité (composant) et les stresseurs complémentaires (tension, power cycling, cycles T°)
> Description de mécanismes de défaillance liés à l'humidité
Ordre du jour de la première réunion le 23 Janvier 2025
I. Mise en contexte de la saison 2 du GT-Humidité, proposé par le CFF
Tour d’horizon des initiatives en cours.
II. Qualification de composants électroniques en RH%
avec tests THB (85°C 85% 1000h) & HAST (130°C 85% 96h) et caractérisation électrique par Liouaeddin BOUKHANA / TRAD TESTS ET RADIATIONS liouaeddin.boukhana@trad.fr
III. Test THB et investigation électrique et optique
Par Giuseppe Bellomonte / III-V Lab giuseppe.bellomonte@3-5lab.fr
IV. Tour de table et discussions